回首页 中文（繁体）

LRCS

集结二十年来的 EDA/YMS 导入经验，推出最适合 IC 设计产业和封装测试产业的全方位测试资料整合分析系统 Lot Review and Comparison System

把苦闷耗时的资料整合交给我们, 让您发挥最大价值在无可取代的分析工作上
把时间花在刀口上
  • 资料整合是资料分析的第一道关卡，也是多数使用者心中的痛，往往耗费许多人力在资料收集与整合，可以真正用在分析的时间少之又少。
  • 半导体产业 CP 和 FT 庞大的 Datalog 测试数据，如果没有合适的分析平台，使用者必须要手工汇整一个批次的 Datalog 数据已是难事，更难以进行同时分析多批 Datalog 的 Base Line 表现。
  • 您绝对需要一个有经验的资料整合伙伴！
卓越的工程资料库设计
  • TYNE 凭借累积已二十年的半导体资料分析系统的导入经验，可协助企业整合半导体产业所触及的 WAT / CP / FT 等各段测试资料，满足所有独特分析需求、达到良率持续改善的目标。
  • LRCS 系统在导入前的资料整合阶段，可协助企业整合各测试厂的 Datalog 资料，让用户免于资料整合的恼人过程、享受整合后的资料新动能。
太引信息

关于我们 客户总览 合作洽谈

Tel:+886-3-5726781   Fax:+886-3-5737833   e-mail:queries@tynesys.com
Copyright@2023 TYNE SYSTEMS CORPORATION. All Rights Reserved. 中文（繁体）

把时间花在刀口上

  • 资料整合是资料分析的第一道关卡，也是多数使用者心中的痛，往往耗费许多人力在资料收集与整合，可以真正用在分析的时间少之又少。
  • 半导体产业 CP 和 FT 庞大的 Datalog 测试数据，如果没有合适的分析平台，使用者必须要手工汇整一个批次的 Datalog 数据已是难事，更难以进行同时分析多批 Datalog 的 Base Line 表现。
  • 您绝对需要一个有经验的资料整合伙伴！

卓越的工程资料库设计

  • TYNE 凭借累积已二十年的半导体资料分析系统的导入经验，可协助企业整合半导体产业所触及的 WAT / CP / FT 等各段测试资料，满足所有独特分析需求、达到良率持续改善的目标。
  • LRCS 系统在导入前的资料整合阶段，可协助企业整合各测试厂的 Datalog 资料，让用户免于资料整合的恼人过程、享受整合后的资料新动能。

多年淬链而成的分析模版精华

  • LRCS 系统汲取了 TYNE 在半导体产业丰富的导入经验，将常见的分析场景去芜存菁，淬链成简洁直觉的条列化分析选单，方便用户轻松点选，即便是毫无经验的人员，也可弹指间享受最精华的分析报表。
  • 系统自动串接不同数据集、跨域分析，无论是 WAT / CP / FT 相关性分析、变异性分析应有尽有，协助用户快速从众多测项中找出嫌疑因子。

色彩统计学

  • 将统计图表结合严谨的统计检定，让使用者透过一张图形即可达成多样化之分析。
  • 在契合分析主题的异常警示条件下，于异状图表注记颜色、达到提醒效果，让使用者能轻松取得统计分析后的成果。

逐批快速浏览

  • 面对用户检视晶圆图的迫切需求，LRCS 提供完整的晶圆图库，供用户快速查找特定批号、特定时间范围内回厂的晶圆图，批号索引的概念，让您切换自如、无需等待。
  • 无论是逐批快速浏览，或者逐片细部检视，皆如翻书般流畅。
  • 单片良率超规警示，快速察觉良率异常位置。

深入探索特定晶圆

  • 互动模式可深入探索晶圆图上的细节变化，轻易掌握 Chip 位置及更多附属资讯，方便与上下游厂商沟通异常晶片资讯。
  • Bin Code 选单互动模式，可即时切换晶圆图上 Bin Code 呈现的颜色，或者隐藏 Bin Code、降噪处理，更能凸显特定 Bin Code 所影响的分布范围。

一应俱全的报表系统

  • Dashboard 让您一眼即知各批号、各站点间的良率差异，并透过灯号自动警示，迅速着眼于异常批次，并一键展开每一片 Wafer 的细部资讯，逐步深入追查。

互动式报表功能

  • Wafer 汇总报表搭配晶圆图快捷按钮，报表、图表无痛切换。
  • 报表具有排序、筛选、冻结栏位功能，协助用户探索资料中隐藏的关键资讯。
  • 批号索引的摘要方式，让您查找报表像翻书般流畅自如。

关联性分析

  • TYNE 独有设计的企业数据资料库设计，整合半导体产业所触及的 WAT / CP / FT 等各段资料，串前串后更简单。
  • 相关系数报表搭配醒目提醒颜色，让您快速从众多可疑参数找出与良率相关性高的关键参数，加速反馈问题症结给上下游厂商，大幅降低异常所造成的损失。

差异性分析

  • 差异性分析是工程资料分析最常见的议题，在比较各种变异时（测试厂、机台、测试程式、Probe Card、位置、参数等），将 QC 七大手法中的层别法融入于各式图表中，以最直观、一目了然的图表方式呈现变异发生的关键点。
  • 为了更客观判定变异是否存在，LRCS 系统运用严谨的统计检定结果，再辅以直观的统计图形，让使用者透过一张报表即可筛选出具有显著性影响的变因。