回首頁 English 中文(簡體)

LRCS

集結二十年來的 EDA/YMS 導入經驗，推出最適合 IC 設計產業和封裝測試產業的全方位測試資料整合分析系統 Lot Review and Comparison System

把苦悶耗時的資料整合交給我們, 讓您發揮最大價值在無可取代的分析工作上
把時間花在刀口上
  • 資料整合是資料分析的第一道關卡，也是多數使用者心中的痛，往往耗費許多人力在資料收集與整合，可以真正用在分析的時間少之又少。
  • 半導體產業 CP 和 FT 龐大的 Datalog 測試數據，如果沒有合適的分析平台，使用者必須要手工彙整一個批次的 Datalog 數據已是難事，更難以進行同時分析多批 Datalog 的 Base Line 表現。
  • 您絕對需要一個有經驗的資料整合夥伴！
卓越的工程資料庫設計
  • TYNE 憑藉累積已二十年的半導體資料分析系統的導入經驗，可協助企業整合半導體產業所觸及的 WAT / CP / FT 等各段測試資料，滿足所有獨特分析需求、達到良率持續改善的目標。
  • LRCS 系統在導入前的資料整合階段，可協助企業整合各測試廠的 Datalog 資料，讓用戶免於資料整合的惱人過程、享受整合後的資料新動能。
太引資訊

關於我們 客戶總覽 合作洽談

Tel:+886-3-5726781   Fax:+886-3-5737833   e-mail:queries@tynesys.com
Copyright@2024 TYNE SYSTEMS CORPORATION. All Rights Reserved. 中文（簡體）

把時間花在刀口上

  • 資料整合是資料分析的第一道關卡，也是多數使用者心中的痛，往往耗費許多人力在資料收集與整合，可以真正用在分析的時間少之又少。
  • 半導體產業 CP 和 FT 龐大的 Datalog 測試數據，如果沒有合適的分析平台，使用者必須要手工彙整一個批次的 Datalog 數據已是難事，更難以進行同時分析多批 Datalog 的 Base Line 表現。
  • 您絕對需要一個有經驗的資料整合夥伴！

卓越的工程資料庫設計

  • TYNE 憑藉累積已二十年的半導體資料分析系統的導入經驗，可協助企業整合半導體產業所觸及的 WAT / CP / FT 等各段測試資料，滿足所有獨特分析需求、達到良率持續改善的目標。
  • LRCS 系統在導入前的資料整合階段，可協助企業整合各測試廠的 Datalog 資料，讓用戶免於資料整合的惱人過程、享受整合後的資料新動能。

多年淬鍊而成的分析模版精華

  • LRCS 系統汲取了 TYNE 在半導體產業豐富的導入經驗，將常見的分析場景去蕪存菁，淬鍊成簡潔直覺的條列化分析選單，方便用戶輕鬆點選，即便是毫無經驗的人員，也可彈指間享受最精華的分析報表。
  • 系統自動串接不同數據集、跨域分析，無論是 WAT / CP / FT 相關性分析、變異性分析應有盡有，協助用戶快速從眾多測項中找出嫌疑因子。

色彩統計學

  • 將統計圖表結合嚴謹的統計檢定，讓使用者透過一張圖形即可達成多樣化之分析。
  • 在契合分析主題的異常警示條件下，於異狀圖表註記顏色、達到提醒效果，讓使用者能輕鬆取得統計分析後的成果。

逐批快速瀏覽

  • 面對用戶檢視晶圓圖的迫切需求，LRCS 提供完整的晶圓圖庫，供用戶快速查找特定批號、特定時間範圍內回廠的晶圓圖，批號索引的概念，讓您切換自如、無需等待。
  • 無論是逐批快速瀏覽，或者逐片細部檢視，皆如翻書般流暢。
  • 單片良率超規警示，快速察覺良率異常位置。

深入探索特定晶圓

  • 互動模式可深入探索晶圓圖上的細節變化，輕易掌握 Chip 位置及更多附屬資訊，方便與上下游廠商溝通異常晶片資訊。
  • Bin Code 選單互動模式，可即時切換晶圓圖上 Bin Code 呈現的顏色，或者隱藏 Bin Code、降噪處理，更能凸顯特定 Bin Code 所影響的分布範圍。

一應俱全的報表系統

  • Dashboard 讓您一眼即知各批號、各站點間的良率差異，並透過燈號自動警示，迅速著眼於異常批次，並一鍵展開每一片 Wafer 的細部資訊，逐步深入追查。

互動式報表功能

  • Wafer 彙總報表搭配晶圓圖快捷按鈕，報表、圖表無痛切換。
  • 報表具有排序、篩選、凍結欄位功能，協助用戶探索資料中隱藏的關鍵資訊。
  • 批號索引的摘要方式，讓您查找報表像翻書般流暢自如。

關聯性分析

  • TYNE 獨有設計的企業數據資料庫設計，整合半導體產業所觸及的 WAT / CP / FT 等各段資料，串前串後更簡單。
  • 相關係數報表搭配醒目提醒顏色，讓您快速從眾多可疑參數找出與良率相關性高的關鍵參數，加速反饋問題癥結給上下游廠商，大幅降低異常所造成的損失。

差異性分析

  • 差異性分析是工程資料分析最常見的議題，在比較各種變異時（測試廠、機台、測試程式、Probe Card、位置、參數等），將 QC 七大手法中的層別法融入於各式圖表中，以最直觀、一目瞭然的圖表方式呈現變異發生的關鍵點。
  • 為了更客觀判定變異是否存在，LRCS 系統運用嚴謹的統計檢定結果，再輔以直觀的統計圖形，讓使用者透過一張報表即可篩選出具有顯著性影響的變因。