FDC 系統透過深度分析設備感測器數據，實現異常精準偵測與自動化分類。除具備基準建模、即時監控與彈性參數設定外，更導入 AI 自動分段技術，將複雜製程細分以優化動態管制界限，極小化誤報風險。結合直觀的可視化儀表板，助工程人員迅速定位根因，實現高效的故障管理與決策。
半導體產業 : 晶圓製造、高階封裝測試(CoWoS/InFO)、第三代半導體(SiC/GaN)光電面板產業 : TFT-LCD、OLED、Micro-LED、OLEDoS、CMOS關鍵載具與精密清洗 : EUV Pod、FOUP、大尺寸基板清洗設備高階精密加工 : 對微環境、壓力、流量極度敏感的先進監控需求。
提供強大的分析工具，加速根本原因分析，找出問題癥結。
有效處理海量數據，建立清晰的資料結構。
將複雜的參數變化轉化為直觀的視覺圖表。
即時監控製程指標與曲線變化，迅速定位製程偏移。
發現問題只是第一步。
FDC 內建多元的進階分析模組，幫助企業快速從「發生什麼事」進展到「為什麼發生」
FDC 彈性且強大的設定功能，能為每個製程建立清晰的「正常」基準。
全天候自動化監控採用雙重模式（Profile 曲線與各階段的 SPC 指標），確保任何製程偏移都能被即刻捕捉。
在擁有多台同型設備的工廠中，維持一致性是最大的挑戰之一。
FDC 運用嚴謹的統計方法與 AI 演算法，可依據製程資料的特徵，自動模擬並建議最佳的製程分段。
太引資訊發揮品質良率管理領域的深厚積澱，賦予 FDC 數據更高層次的戰略價值，助企業實現從「設備穩定」跨越到「極致良率」。
核心競爭優勢| 優勢維度 | 技術核心 | 客戶價值 |
|---|---|---|
| 數據關聯引擎 | 整合 FDC Trace 與後端測試數據 (WAT/CP/FT) | 良率溯源 (Yield-Centric RCA)：直觀呈現參數偏移對最終良率的影響。 |
| AI 高維特徵分析 | 自研非線性演算法，自動提取波形物理特徵 | 精準預警：識別傳統統計法無法偵測的微小異常，預防設備故障風險。 |
| 閉環自動化決策 | 結構化 OCAP 流程與設備即時互鎖 (Interlock) | 持續優化：透過工程師回饋機制強化判定邏輯，極小化誤報與漏報。 |
| 高彈性平台架構 | 模組化設計與深度客製化開發實力 | 精準適配：針對不同製程環境量身定制監控模型，快速導入生產線。 |
太引 FDC 深度整合 AYEDAS/YMS 系統，打破資訊孤島，讓分析工作流一氣呵成。
無論新舊設備，我們皆能提供對應的數據對接方案，確保監控無死角。
| 設備等級 | 技術方案 | 核心優勢 |
|---|---|---|
| 先進智慧設備 | 高速數據公路 | 利用獨立於生產控制的高速通道，實現每秒百次（10Hz+）的高頻採樣。滿足大數據建模與 AI 根因分析所需的極致精度。 |
| 主流自動化設備 | 標準通訊整合 | SECS/GEM (EAP) 標準化鏈結，穩定擷取製程參數與事件訊息。透過太引優化的數據處理引擎，有效解決傳統通訊易塞車的痛點，確保報警即時不延遲。 |
| 傳統與成熟設備 | 數據精細化轉型 | PLC/PC Base 直接存取與智慧虛擬分段技術。 |
| 純機械與非通訊設備 | 賦予感知能力 | 在機台外部加裝電流夾、震動感測器或壓力計，訊號不經過機台電腦，直接數位化。這是實現老廠翻新、設備預防性維護（PdM）最直接高效的途徑。 |
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